靜電(diàn)電(diàn)荷如何造成損害（檢測(cè)儀相關）
當這些靜電荷與電子設備接觸時 ，就會損壞組件。電流随著(zhe)電荷沿器件的導電電路移動而流動，並(bìng)且電荷的通常非常高的電壓水平使集成電路的精密迹線過熱，使它們熔化甚至蒸發其中的一部分 。當通過顯微鏡檢查時，由電引起的損壞- 靜電放電看起來很像散落在組件電路景觀中的微小炸彈坑。
将表中的值進行快速比較，列出瞭(le)檢測(cè)儀器件的敏感性水平，這說明瞭(le)爲什麽《半導體可靠性新聞》估計大約 60% 的器件故障是由靜電損壞造成的釋放。
可能會發生具有潛在破壞性的靜電放電：
• 任何時候帶電表面（包括人體）對設備(bèi)放電。即使是手指簡單地接觸敏感設備(bèi)或組件的引線，也會産(chǎn)生足夠的放電而造成損壞。帶電的導電物體（例如金屬工具或固定裝置）也會發生類似的放電。
• 當敏感設備(bèi)上積累的靜電荷從(cóng)設備(bèi)釋放到另一個表面時，例如包裝材料、工作表面、機器表面或其他設備(bèi)。在某些情況下，帶電設備(bèi)放電可能是 很具破壞性的。
一個典型的例子是将電子組件安裝到它所運行的設備(bèi)的連接器或線束中的簡單操作。如果組件帶(dài)有靜電荷，當它接地時，就會發生放電。
• 每當将敏感設備(bèi)移動到現有靜電場的場中時，設備(bèi)上可能會感應出電荷，從而将電場有效地釋放到設備(bèi)上。如果器件在靜電場内瞬間接地或從靜電場區域移開並(bìng)在其他地方接地，則當電荷從器件轉移到地時将發生第二次放電。
